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熱門(mén)關(guān)鍵詞： 測(cè)角儀，應(yīng)力雙折射，折射率，薄膜弱吸收，反射率，GDD檢測(cè)設(shè)備，波片相位延遲，剪切
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簡(jiǎn)要描述：太赫茲探測(cè)器 THZ-B系列，數(shù)字（T-Rad）或模擬模塊（T-Rad-Analog）可選。
產(chǎn)品型號(hào)：廠(chǎng)商性質(zhì)：代理商更新時(shí)間：2025-05-17訪(fǎng) 問(wèn) 量：278
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